. Metrology and Standardization for Nanotechnology: Protocols and Industrial Innovations Elisabeth Mansfield (Editor).Debra L. Kaiser (Editor), Daisuke Fujita (Editor), Marcel Van de Voorde (Editor). - Wiley-VCH, 2017 978-3-527-34039-2 SIN MARCA

. Metrology and Standardization for Nanotechnology: Protocols and Industrial Innovations Elisabeth Mansfield (Editor).Debra L. Kaiser (Editor), Daisuke Fujita (Editor), Marcel Van de Voorde (Editor). - Wiley-VCH, 2017

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Modelo: 978-3-527-34039-2



No. Parte: 978-3-527-34039-2


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. Metrology and Standardization for Nanotechnology: Protocols and Industrial Innovations Elisabeth Mansfield (Editor).Debra L. Kaiser (Editor), Daisuke Fujita (Editor), Marcel Van de Voorde (Editor). - Wiley-VCH, 2017

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