. Metrology and Standardization for Nanotechnology: Protocols and Industrial Innovations Elisabeth Mansfield (Editor).Debra L. Kaiser (Editor), Daisuke Fujita (Editor), Marcel Van de Voorde (Editor). - Wiley-VCH, 2017 978-3-527-34039-2 SIN MARCA
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No. Parte: 978-3-527-34039-2

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